經常有研發工程師和器件工程師問到這樣的問題：兩個不同公司的功率MOSFET管，耐壓和導通電阻基本相同，標稱的電流也相同，該如何判斷哪一個功率MOSFET管的雪崩能量更高，雪崩能力更強？
MOSFET A 測試條件：起始結溫TJ=25°C，電感L=0.1mH，IAS=30A，EAS=45mJ。
MOSFET B 測試條件：起始結溫TJ=25°C，電感L=8mH，IAS=10A，EAS=400mJ。
由於二個功率MOSFET的雪崩電流和雪崩能量的測試條件不同，使用不同的電感值，因此無法確定哪一個雪崩性能更好。
下面再看幾個實際例子：
1、AOS：大多數功率MOSFET使用L=0.1mH。
AOS AON6590：L=0.3mH，數據表標明用去耦電路測量。
AOS AON6260：L=0.1mH，數據表標明用去耦電路測量。
2、不同公司電感都不相同，有些沒有標明。
TK100E10NE：L=42uH，Toshiba數據表標明使用非去耦電路測量，比同樣條件下去耦電路的值高。
BSC035N10NS5：沒有標明電感值，似乎Infineon的MOSFET都沒有標出電感值，也不知道用非去耦電路還是去耦電路測量。
STP15810：ST數據表沒有標電感值，後面說明了用去耦電路測試電路，可以通過使用的電源電壓和雪崩電壓來計算電感。
3、同一家公司不同產品測量電感也不同。
IRFB4310：L=0.35mH，IR數據表標明用去耦電路測量。
IRF3205：L=138uH，數據表標明用去耦電路測量。
IRF4110：L=0.033mH，數據表標明用去耦電路測量。
IRF7437：L=0.069mH，L=0.095mH，測試了二個電感條件下的雪崩能量，數據表標明用去耦電路測量。
IRFB7430：L=0.15mH，L=1mH，測試了二個電感條件下的雪崩能量，數據表標明用去耦電路測量。
IRFB7540：L=86uH，L=1mH，測試了二個電感條件下的雪崩能量，數據表標明用去耦電路測量。
4、數據表和生產所用電感值不相同。
FDMS86101：L=0.3mH，L=0.1mH，測試了二個電感條件下的雪崩能量，數據表標明用去耦電路測量。
FDMS86101：L=0.3mH，L=0.1mH，測試了二個電感條件下的雪崩能量，數據表標明用去耦電路測量。
5、電感值大，UIS雪崩能量高。
IR和Fairchild的有些功率MOSFE的數據表中，使用不同的電感值測試雪崩能量，可以看到：電感值大，UIS雪崩能量也大。看下面另外二個產品，也可以說明這一點。
AOS MOSFET：60V/25mOhm，測試條件：VGS=15V，VDD=25V，TA=25C，DPAK封裝
TI CSD18502KCS：數據表標明用非去耦電路測量電路。
從前面結果可以看到，不同公司的功率MOSFET，同一公司不同型號功率MOSFET，都有可能使用不同的電感測量UIS雪崩能量，使用測量電路也不相同，數據表標示結果在很大程度上沒有可比性，也不能直接說明哪一個功率MOSFET的UIS雪崩能量更高，抗雪崩能力更強。同一個器件，使用的電感值越高，UIS雪崩能量更高。由於沒有統一的標準，有些公司在測量UIS雪崩能量過程中使用較大的電感，這樣使器件在數據表中可以標出比較大的雪崩能量，因此工程師要仔細的研究數據表，比較測試條件和測試電路，從而正確判斷功率MOSFET的UIS雪崩能量。
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